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德國菲希爾測厚儀 XDL230，熒光射線測厚儀，原理是基于X射線穿透材料時強(qiáng)度的衰減與被測物厚度之間的定量關(guān)系，通過測量衰減后的射線強(qiáng)度計算厚度值?。

因為是非接觸式的，所以X射線測厚儀適用于高速生產(chǎn)線（如軋鋼、薄膜制造）的實時監(jiān)測。

技術(shù)優(yōu)勢

?高適應(yīng)性?：通過調(diào)整X射線能量（如改變管電壓）可匹配不同材質(zhì)和厚度的測量需求。

?實時反饋?：與控制系統(tǒng)聯(lián)動，實現(xiàn)生產(chǎn)過程中的自動厚度調(diào)整。

測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板